Microscopie Optique
Leica Ce système permet l’observation d’une surface à l’échelle optique avec un agrandissement X100.
Microscopie électronique à balayage ( MEB )
FEI FEG 450 Le microscope électronique FEI FEG 450 (Field Emission Gun) est équipé de plusieurs détecteurs notamment le détecteur EDS BRUKER XFlash 6/30, et accessoires permettant une étude morphologique structurale et chimique de tous les types d’échantillons solides et en poudre. Cet équipement donne la possibilité de réaliser des contrôles qualité pour différentes industries…
Microscopie à force atomique (AFM)
Veeco Dimension ICON Système permettant d’observer et de caractériser la topologie de surface d’un échantillon à l’échelle atomique. Les différents accessoires permettent d’obtenir des informations sur les propriétés électriques et magnétiques de surface.