Microscopie


* Microscopie à force atomique (AFM)
 
 
Veeco Dimension ICON
 
Système permettant d’observer et de caractériser la topologie de surface d’un échantillon à l’échelle atomique. Les différents accessoires permettent d’obtenir des informations sur les propriétés électriques et magnétiques de surface.
 

* Microscopie  électronique à balayage ( MEB )
 
 
FEI FEG 450
Le microscope électronique FEI FEG 450  est équipé de plusieurs détecteurs et accessoires permettant une étude morphologique structurale et chimique de tous les types d’échantillons solides de dimension inferieur 100 cm². La chambre à vide est équipée d’un système  d’évacuation montée en cascade et de possibilité d’introduction des gazes tels que l’azote ou la vapeur d’eau permettant ainsi de modifier sa pression. Des détecteurs gazeux permettent de faire de  l’imagerie et  l’analyse chimique à  différentes  pressions.

 

* Microscopie Optique
 
 
Leica
Ce système permet l’observation à l’échelle optique avec un agrandissement X100.